Caractérisation des Semi-Conducteurs

Topic outline

• General
  

  General

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• Polycopié: Caractérisation des Semiconducteurs
  

  Polycopié: Caractérisation des Semiconducteurs
• PARTIE 01: COURS
  

  PARTIE 01: COURS

  • Section 01: Caractérisation des Semiconducteurs File
  • Section 02: Technique DLTS -I- File
  • Section 03: Technique DLTS -II- File
• PARTIE 02: TRAVAUX DIRIGES
  

  PARTIE 02: TRAVAUX DIRIGES

  • TD 01: Résistivité électrique/Technique quatre pointes File
  • TD 02: Effet HALL File
  • TD 03: Caractéristique I(V) File
  • TD 04: Caractéristique C(V) File
  • TD 05: Technique DLTS File
• PARTIE 03: TRAVAUX PRATIQUES
  

  PARTIE 03: TRAVAUX PRATIQUES

  • TP 01: Mesure de la résistivité électrique par la technique quatre pointes File
  • TP 02: Mesure de la caractéristique I-V File
  • TP 03: Mesure de la caractéristique C-V File
• REFERENCES
  

  REFERENCES

  • CHAPITRE 02: Technique DLTS [THESE DOCTORAT GASSOUMI M.]] File
  • Book: Semiconductor Material and Device Characterization File
  • Références File